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CCP ALD

CCP ALD


CCP ALD(电容耦合原子层沉积设备)是在Thermal ALD的基础上引入了电容耦合等离子体,利用电场对气体放电,产生等离子体激活先驱体的反映活性,与Thermal ALD相比能够有效拓宽ALD反映窗口,提高沉积速度,降低薄膜中杂质含量,同时,等离子体引入后能够使活性较低的先驱体源满足ALD反映需要,从而拓展先驱体的选择领域 。被宽泛利用于对温度敏感资料和柔性衬底上薄膜的沉积,具备均匀的加热,高精度的节造特点

详情介绍

加热温度:0-400℃
基片尺寸:4寸、6寸
等离子功率:0W-500W

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